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用途
适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD芯片电阻、电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
主要技术参数
| 型号 | LE-ZQ-50 | 按客户要求定制 |
| 内箱尺寸WxHxD(cm) | 50x40x17 | |
| 外箱尺寸WxHxD(cm) | 73x57x50 | |
| 内外箱材质 | SUS304#不锈钢制作 | |
| 温度范围 | 常温+10℃至98℃ | |
| 控制系统 | PID+SSR控制,数字式显示,时间到达后切断电源;水位过低时自动补充 | |
| 升温时间 | 约45min;控制精度:±1℃ | |
| 计时功能 | 1~9999H/M/S | |
| 安全保护系统 | 1、超温保护装置.
2、缺水超温保护装置. 3、蒸汽排气孔. |
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